応答波長範囲:1000-1650nm、材料:InGaAs、有効ピクセル径:25μm
| 型番 : SPD65111S |
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| 在庫番号 : E80043284 |
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SPD65111S は InGaAs ユニット単一光子検出器モジュールです。動作波長は 1.0μm~1.65μm で、高感度(単一光子レベルの検出が可能)を有します。フリールニングモード(動作ゲート幅調整可能)、LVTTL/TTL 出力、内部および外部同期動作対応、主要設定パラメータの調整可能、自由空間光/FC プラガブル光インターフェース/マルチモードファイバー(62.5μm)のオプション対応。
特性パラメータ | 記号 | 試験条件 | 最小値. | 典型値 | 最大値 | 単位 |
検出器仕様および構成パラメータ | ||||||
有効ピクセル径 | d | — | — | 25 | — | μm |
動作波長 | λ | — | 1000 | — | 1650 | nm |
出力信号振幅 | Vout | 2.5 | 3.3 | 5.0 | V | |
消費電力 | PDC | VIN =12.0V,Tth=-30℃±5℃ | — | 15.0 | — | W |
入力電圧 | VIN | — | — | 12 | — | V |
入力電流 | IIN | VIN =12.0V,Tth=-30℃±5℃ | 1.5 | — | A | |
動作周囲温度 | TA | — | -40 | — | 55 | ℃ |
重量 | Wt | — | — | — | 300 | g |
検出器サイズ | SC | — | 89 ×62 ×30 | mm | ||
性能パラメータ | ||||||
光子検出効率 | PDE | TA=25±5℃,Tth=-30℃±5℃, τ=0.8 μs±0.1 μs,λ=1550±50nm(InGaAs),λ=1064±10nm(InGaAsP) | 10 | 15 | — | % |
ダークカウントレート(InGaAs) | DCR(PDE=10%) |
— |
— |
10 |
kHz | |
ダークカウントレート(InGaAsP) | DCR(PDE=10%) | — | — | 5 | kHz | |
アフターパルス確率 | APP(PDE=10%) | — | — | 20 | % | |
Tth: InGaAsアバランシェフォトダイオードチップの動作温度 τ: デッドタイム 上記パラメータの測定時の周囲温度: TA = 25 ± 5℃ | ||||||
パラメータ設定範囲および推奨動作条件
No. | パラメータ | 定格値 | |
パラメータ設定範囲 | 1 | 検出器動作温度 | -30℃~30℃、最小ステップ値:0.1℃ |
2 | デッドタイム調整 | 0.1μs~2.0μs、ステップ値:0.025μs | |
3 | アバランシェ電圧しきい値調整 | 50.0V~85.0V、ステップ値:0.1V | |
4 | ガイガーアバランシェ比較電圧設定 | 0.35V~1.10V、ステップ値:0.01V | |
5 | 検出器動作ゲート幅および動作周期の調整 | 動作ゲート幅:≥0.1μs、動作周期:>0.1μs、ステップ値:0.01μs | |
No. | パラメータ | 定格値 | |
推奨動作条件 | 1 | 検出器動作温度 | -30℃~0℃ |
2 | デッドタイム値 | 0.80μs | |
3 | アバランシェ電圧しきい値調整 | 詳細は試験報告書を参照してください | |
4 | ガイガーアバランシェ比較電圧設定 | 0.45V~0.90V | |
典型特性カーブ

図1.InGaAsスペクトル応答特性曲線

図2.InGaAsスペクトル応答特性曲線
Quality Reliability Assurance
Implement the relevant requirements of GJB8121-2013 "General Specifications for Semiconductor Optoelectronic Assemblies"