本デバイスは複合 Si-PIN 構造です。高応答性を実現するため、バックサイドホールエッチングプロセスにより I 層を薄くしています。キャリアが浮遊領域を通過すると、光電流が発生します。応答速度を速めるため、遅い光キャリアはショートされています。
当社独自の特許パッケージ設計「Bullet」デザインは、異なる波長向けに最適化された 2 つのチップを採用しています。1 つは「サークルチップ」、もう 1 つは「スクエアチップ」と呼ばれます。
サークルチップはピーク応答波長が約 950 nm で、1060 nm 付近の波長にも良好に応答します。
スクエアチップはピーク応答波長が約 900 nm で、450 nm~650 nm の波長に良好に応答します。
デバイスはアクティブエリアサイズに適合する任意サイズの光ファイバーとピグテール化可能です。ピグテールのコアサイズは 3 µm から 100 µm まで対応。標準長さは 1 m ですが、任意の長さやコネクタ終端を指定できます。ピグテールは ST、FC、SC、LC コネクタで PC または APC 研磨に対応可能です。
| ネーム | モデル | 説明 | パラメータ | 価額 |
|---|
● 大面積感光領域
● 低暗電流
● 高感度
● 高信頼性
Tsub = 25°C、特に記載のない限り CW バイアスにて測定
Circle チップ
パラメータ | 記号 | テスト条件 | 最小値 | 典型値 | 最大値 | 単位 | ||
感度スペクトル | λ | - | 400~1100 | ㎚ | ||||
Circleチップ有効径 | φ | - | 0.2 | 0.5 | 1.0 | 2.0 | 4.0 | mm |
受光感度 | Re | λ=1060nm,VR=40V | 0.2 | 0.2 | 0.2 | 0.23 | 0.23 | A/W |
応答速度 | Tr | RL=50Ω,VR=40V | 2.0 | 5.0 | 6.0 | 8.0 | 12.0 | ns |
逆耐圧 | VBR | IR =10µA | 80 | 100 | 80 | 100 | 100 | Ⅴ |
暗電流 | ID | VR = 40V | 1 | 5 | 8 | 10 | 40 | nA |
静電容量 | C | F=1MHZ,V R =40V | 0.5 | 0.8 | 2.0 | 5.0 | 12 | PF |
動作電圧 | ⅤR | - | 40 | V | ||||
備考(Note):飽和光パワー ≤ 0.3 W/cm²
Square チップ
パラメータ | 記号 | テスト条件 | 最小値 | 典型値 | 最大値 | 単位 | ||
感度スペクトル | λ | - | 400~1100 | ㎚ | ||||
Circleチップ有効径 | φ | - | 1x1 | 4x4 | 1.3x1.3 | 2x2 | 3x3 | mm |
受光感度 | Re | λ=635nm,VR=10V | 0.38 | A/W | ||||
応答速度 | Tr | RL=50Ω,VR=10V | 25 | 100 | 45 | 50 | 50 | ns |
逆耐圧 | VBR | IR =10µA | 50 | Ⅴ | ||||
暗電流 | ID | VR = 10V | 3 | 15 | 3 | 5 | 7 | nA |
静電容量 | C | F=1MHZ,V R =10V | 15 | 350 | 50 | 300 | 500 | PF |
動作電圧 | ⅤR | - | 10 | V | ||||
備考(Note):飽和光パワー ≤ 0.3 W/cm²
典型特性曲線
Responsivity, R (A/W)

Circle chip Wavelength, λ (nm)
Responsivity, R (A/W)

Square chip Wavelength, λ (nm)
静電容量-電圧特性曲線
capacitance

Voltage(V)
応用回路



SMF-28E ファイバー 公称特性と許容差
パラメータ | 仕様値 |
カットオフ波長 | 920nm |
最大減衰 | 2.1dB/km |
クラッド径 | 125um |
コーティング径 | 250um |
コア・クラッド同心度 | ≤0.5um |
モードフィールド径 | 9.5um |
絶対最大定格
項目 | 記号 | 単位 | 最小値 | 典型値 | 最大値 | テスト条件 |
ケース温度 | TOP | ℃ | -5 | 25 | 70 | |
順方向電圧 | VR | V | 5 | 10 | 15 | |
軸方向引張力 | N | - | - | 5N | 3x10s | |
側面引張力 | N | - | - | 2.5N | 3x10s | |
光ファイバー曲げ半径 | 16mm | - | ||||
逆方向電圧(PD) | VPD | V | - | - | 10 | C=100pF,R=1.5KΩ,HBM |
PD 静電気放電 | VESD-PD | V | - | 500 | ||
PD 順方向電流 | IPF | mA | - | 10 | ||
リードはんだ付け時間 | S | - | 10s | 260℃ | ||
保存温度 | TSTG | ℃ | -40 | - | +85 | 2000hr |
動作温度 | TOP | ℃ | -55 | - | +125 | |
相対湿度 | RH | 5% | - | 95% | 結露なし |
· 距離測定
· 0.4–1.1 μm 過渡プロセス
· 高速物理・化学プロセス光検出
· 光検出、YAG パルス出力測定
· 光ファイバー通信検出
PL-□□□□-☆-AR▽-XX-TO
□□□□:カットオフ波長
0400:400nm
0900:900nm
1700:1700nm
2100:2100nm
2400:2400nm
2700:2700nm
☆ :材料
IG:InGaAs
Si:Si
▽:有効径
1:1mm
2:2mm
1X1: 1x1mm
2X2: 2X2mm
XX: パッケジ/ファイバ及びコネクタタイプ
TO:TO46 パッケージ
FSA=SMF-28E Fiber coupled+ FC/APC
FSP=SMF-28E Fiber coupled + FC/PC
FPP=PM Fiber Fiber coupled + FC/PC
FPA=PM Fiber Fiber coupled + FC/APC
ユーザー安全情報
安全および動作上の注意事項
本デバイスは逆バイアス電圧で動作します。デバイスの極性を逆にしてはいけません。
フォトダイオードを最大定格外で使用すると、デバイスの故障や安全上の危険を引き起こす可能性があります。本部品に使用する電源は、最大ピーク光出力を超えてはいけません。
ESD 保護 — 静電気放電(ESD)は、予期せぬレーザーダイオード故障の主な原因です。ESD を防ぐために十分な注意を払ってください。フォトダイオードを取り扱う際は、腕時計型アースベルト、接地された作業台、および厳格な静電気防止技術を使用してください。