InGaAs および InGaAsP 単一光子雪崩型ダイオード(SPAD)チップは、4×4 および 8×8 のアレイ仕様を持ち、短波長赤外域の単一光子検出、計数、イメージングに特化した専用チップです。
ゲイガーモードで動作する際、チップの各ピクセルは独立して自由に動作します。主に、0.9~1.7 μm および 0.95~1.25 μm の近赤外域における弱光信号の検出に使用されます。
| 名称 | モデル | 説明 | パラメータ | 価額 |
|---|
· スペクトル応答帯域:0.9~1.7 μm(および 0.95~1.25 μm はオプション)
· ピクセルは独立して自由に動作
· ピクセルは微弱光子信号を検出可能
· 高い検出効率
パラメータ/記号 | 試験条件 | 最小値 | 最大値. | 単位 | |
単位:直流(DC) 特性 ケース温度(Tc):23 ± 2 ℃
| ブレークダウン電圧、Vbr | Id=10μA | 50 | 80 | V |
感度、Re | λ=1.55μm/1.06μm, Vr=Vbr-2V, Φe=1μW | 7.5 | A/W | ||
暗電流、Id | Vr=Vbr-2V, Φe=0μW | 1 | nA | ||
静電容量、Ctot | Vr=Vbr-2V, f=1MHz | 0.25 | pF | ||
ブレークダウン電圧の温度係数、η | Top = ﹣40~﹢30℃, I=10μA, Φe=0 | 0.15 | V/℃ | ||
ブレークダウン電圧の一致性、ΔVbr | Id=10μA | 0.05 | V | ||
パラメータ/記号 | 試験条件 | チップモジュール | ||||
A4P50F-1550 | A4P50F-1064 | A4(8)P100F-1550 | A4(8)P100F-1064 | |||
単位:ゲイガー特性 動作温度(Top):−20 ℃
| 光子検出効率(PDE) | 0.1 光子/パルス λ = 応答ピーク波長 | ≥ 20% | |||
正規化暗カウント率*、DCR | fg=100MHz, PDE=20% | ≤ 10kHz | ≤ 5kHz | ≤ 10kHz | ≤ 5kHz | |
アフターパルス確率、APP | fg=100MHz, PDE=20% | ≤ 2.5% | ≤ 2% | ≤ 2.5% | ≤ 2% | |
クロストーク確率、Pxt | fg=100MHz, PDE=20% | ≤ 20% | ≤ 10% | |||
特殊用途向けカスタマイズ対応:DCR < 1 kHz @ 0 ℃またはAPP < 0.5% @ 0 ℃
絶対最大定格
項目 | パラメータ/記号 | 定格値 |
絶対最大定格 | 保存温度、Tstg | ﹣50℃~﹢85℃ |
(動作)周囲温度、Tc | ﹣50℃~﹢80℃ | |
はんだ温度、Tsld(時間) | 260℃(10s) | |
DC 逆バイアス電圧、Vr | Vbr | |
過バイアスパルス振幅、Vg | 10V | |
入力光パワー、Φe(連続) | 1mW | |
順方向電流、If(連続) | 1mA | |
静電放電感受性、ESD | ≥300V |
チップ構造
チップモジュール | A4P50F-1550/-1064 | A4P100F-1550/-1064 | A8P100F-1550/-1064 |
アレイサイズ | 4×4 | 8×8 | |
ピクセルサイズ | 50μm×50μm | 100μm×100μm | 100μm×100μm |
アクティブ面積 | Φ16μm | ||
Unit: μm

50μmピッチ 4×4 アレイチップ A4P50F の構造回路図

100μmピッチ 4×4 アレイチップ A4P100F の構造回路図

100μmピッチの8×8アレイチップA8P100Fの構造回路図
品質信頼性:本製品は、Telcordia-GR-468-COREに基づく製品の信頼性要件を満たしています。
· 霧、煙、ほこりを通じた距離測定
· 近赤外レーザー警告
· 長距離光学測距
· 長距離宇宙レーザー通信