Technology

Dedicated to multi style packaging and diversified application fields

精密波長スクリーニング

LD-PD は COC チップの波長スクリーニングを実施でき、許容差 ±1 nm 以下のフォトンチップを提供します。また、LD-PD には近赤外高速波長計と中赤外 FTIR フーリエ分光計を備えており、すべての波長を厳密にスクリーニングすることが可能です。

自動出力監視

LD-PD が独自開発した全自動 L-I-V カーブ測定システムは、半導体レーザーの試験効率を大幅に向上させます。本システムは、電流変化に伴うレーザー出力と駆動電圧の関係を自動で測定し、関連するカーブをリアルタイムで描画します。

高精度スペクトル解析

Anritsu MS9740B スペクトルアナライザは、波長範囲 600～1750 nm、分解能 0.07 nm、ダイナミックレンジ 70 dB をカバーします。また、AQ6375E 中赤外分光計は、波長範囲 1000～2500 nm、分解能 0.05 nm、ダイナミックレンジ 50 dB を備えています。

ビーム品質評価

ビーム品質はレーザービームの特性評価において重要な要素です。LD-PD はレーザービームの 2D/3D プロファイルを解析し、M² を評価するとともに、レーザーのビーム品質を分析します。

フリーアセンブリドライブ

ユーザーはピンのカスタマイズが可能で、任意のピン定義に対応できます。はんだ付け後に組み立てることも可能で、製品の信頼性を向上させます。超低ノイズ回路設計により、センシング分野で求められる狭線幅・低ノイズの要件を満たします。

精密波長制御精度

LD-PD は当社の COC チップに対して波長スクリーニングを実施でき、±1 nm 以下の許容差を持つフォトンチップを顧客に提供します。近赤外高速波長計および中赤外 FTIR フーリエ分光計を備えており、すべての波長の限定スクリーニングおよびベンチマーク測定を行うことで、顧客の波長要件に対応します。

近赤外高速波長取得装置

中赤外 FTIR フーリエ分光計

全波長の限定スクリーニング

自動出力監視

LD-PD の全自動 L-I-V カーブ測定システムは、当社が独自に開発した試験システムです。本システムにより、半導体レーザーの試験効率が大幅に向上します。システムはレーザー出力と駆動電圧の変化に伴う電流の関係を自動で測定し、関連するカーブをリアルタイムで描画することができます。

フル波長精密スペクトル解析

MS9740B Anritsu スペクトルアナライザ AQ6375E Yokogawa 中赤外分光計

MS9740B Anritsu スペクトルアナライザは、波長範囲 600～1750 nm をカバーします
MS9740B Anritsu は、高い分解能と波長精度を備えています。シングルモード光ファイバおよびマルチモード光ファイバに対応できる特性を持ち、コストパフォーマンスも高いです。
AQ6375E は通信波長帯をカバーするだけでなく、環境センシングや医療用途で一般的に使用される SWIR 領域もカバーします。
AQ6375E には 3 つのモデルがあります。標準およびリミットレベル: 1200～2400 nm 拡張レベル: 1000～2500 nm