応答波長: 950–1600 nm、材料: InGaAs、感度: 8 A/W @ 1550 nm
| 型番 : SPD5526-SM-FC/UPC (1.0m) |
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SPD5526 は、光子計数用の InGaAs アバランシェフォトダイオード(APD) デバイスで、単結晶内に 負帰還抵抗 をモノリシックに統合しています。
Geiger モードの高利得特性に基づき、検出した光子をマクロ電流に変換します。負帰還抵抗により動的電圧分割が行われ、アバランシェ電場の 自己消光(self-quenching) と 自己回復(self-recovery) が実現されます。
SPD5526 は TO-同軸ハウジング にパッケージされ、ファイバーピグテールが装備されています。光学入力インターフェースは シングルモードまたはマルチモードファイバー で、FC/UPC コネクタおよび直径 0.9 mm のタイトバッファ保護チューブが付属しています。
光電特性
線形動作パラメータ
特性パラメータ | 試験条件 | 最小値. | 最大値. | 単位 |
特に指定のない場合、チップ温度(TC) = 25 ± 5 ℃ | ||||
受光スペクトル範囲 | - | 950 | 1650 | nm |
逆方向ブレークダウン電圧 (VBR) | ID=100nA | 60 | 85 | V |
感度 (Re) | λ=1.55μm,VR=VBR-1V,φe=1μw | 8 | - | A/W |
暗電流 (ID) | VR=VBR-1V,φe=0 | - | 1 | nA |
静電容量 (Ctot) | VR =VBR-1V,f=1MHz | - | 0.6 | pF |
内蔵抵抗値 (Rs) | IF=200μA,φe=0 | 200±50 | KΩ | |
ブレークダウン電圧温度係数 (ŋ) | TC=-45~+30℃,IR =10μA,φe=0 | 0.1 | 0.15 | V/℃ |
ゲイガーモードパラメータ
特性パラメータ | 試験条件(TC=-40±3℃,fp=50KHz) | 最小値. | 最大値. | 単位 |
単一光子検出効率 (PDE) | λ=1550nm | 15 | - | % |
暗カウント率 (DCR) | PDE=15% | - | 10 | kcps |
アフターパルス確率 (APP) | PDE=15%,λ=1550nm,Δt=1us | - | 15 | % |
パルス出力振幅 (Vout) | PDE=15%,R=50Ω | 0.5 | - | mV |
注記 λ:入射光の波長、 fp:光パルス信号の周波数、 R:サンプリング抵抗
絶対最大定格および推奨動作条件
No. | パラメータ | 定格値 | |
絶対最大定格 | 1 | 保管温度 (TSTG) | -50℃~+85℃ |
2 | 動作環境温度 (Tc) | -50℃~60℃ | |
3 | はんだ付け温度 (Tstd, 時間) | 260℃(10s) | |
4 | 逆方向直流バイアス電圧 (VDC) | VBR +5V | |
5 | 入力光パワー (φe, 連続) | 1mW | |
6 | 順方向電流 (IF, 連続) | 200μA | |
7 | 静電気耐性 (ESD) | ≥300V | |
8 | ピグテール引張強度 | 3.0N | |
No. | パラメータ | 定格値 | |
推奨動作条件 | 1 | APD チップ動作温度 (Tth) | -50℃~-30℃ |
2 | 逆方向直流バイアス電圧 (VDC) | VBR+1V~VBR+5V | |
典型特性カーブ

図1:光電流および暗電流曲線

図2:ブレークダウン電圧温度係数
品質信頼性保証
半導体光電子デバイスに関する GJB8119-2013「一般仕様書」の関連要求事項を実施