応答波長:400~1100 nm、 帯域幅:12 MHz、材料:Si、受光部径:Φ0.5 mm
| 型番 : APDS-0.4/1.1-0.5-AG8 |
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APD(Avalanche Photodiode)は、アバランシェ効果により光電変換ゲインを向上させ、高感度を実現します。弱光信号検出に適しており、波長範囲 400~1100 nm のシリコン検出器として、可視光および近赤外光の計測に広く使用されます。
本製品は増幅型検出器で、8段階のゲイン調整が可能な定量的光電変換を実現します。
製品モデル | APDS-0.4/1.1um-0.5mm-AG8 | ||||
波長範囲 | 400~1100nm | ||||
受光部径 | Φ0.5mm | ||||
APD バイアス電圧調整範囲 | 0 ~ 400 V | ||||
APD ゲイン M | 0 ~ 400 | ||||
応答時定数 | 2.5ns | ||||
帯域幅範囲 | DC~12MHZ | ||||
ゲイン範囲 | Hi-Z load: 1.51kV/A~4.75MV/A; 50Ω load: 0.75kV/A~2.38 MV/A | ||||
信号振幅 | Hi-Z load: 0~10V; 50Ω load: 0~ 5V | ||||
ゲイン調整方式 | ロータリーギア式調整:0~70 dB、ギア1段あたり10 dB、合計8段階 単回転ポテンショメータによるAPD自身のゲイン調整:ゲインが大きくなるほど帯域幅は狭くなります | ||||
受光面深さ | 0.056" (1.5 mm) | ||||
検出器正味重量 | 0.11kg | ||||
動作温度 | 10~40℃ | ||||
保存温度 | -20~70℃ | ||||
外形寸法 | 2.78" X 2.21" X 1.20" (70.6 mm X 56.2 mm X 30.5 mm) | ||||
NEP | 2.67~71.7pW/Hz1/2 | ||||
電源インターフェース | 電源スイッチ | 信号インターフェース | ゲイン調整 | 支持棒インターフェース | 光学インターフェース |
LUMBERG コネクタ | スライドスイッチ(LED表示付き) | BNC メスソケット | 単回転ポテンショメータ(8段階ノブ) | M4 X 2 | SM1 X 1 SM0.5 X 1 |
8段階定量可変ゲインパラメータ
0dB | 10dB | 20dB | 30dB | ||||
ゲイン (Hi-Z) | 1.51X103V/A | ゲイン(Hi-Z) | 4.75X103V/A | ゲイン(Hi-Z) | 1.5X104V/A | ゲイン (Hi-Z) | 4.75X104V/A |
Gain (50Ω) | 0.75X103V/A | ゲイン (50Ω) | 2.38X103V/A | ゲイン (50Ω) | 0.75X104V/A | ゲイン (50Ω) | 2.38X104V/A |
帯域幅 (BW) | 12MHz | 帯域幅 (BW) | 1.6MHz | 帯域幅(BW) | 1MHz | 帯域幅(BW) | 260kHz |
ノイズ (RMS) | 258μV | ノイズ (RMS) | 192μV | ノイズ (RMS) | 207μV | ノイズ (RMS) | 211μV |
40dB | 50dB | 60dB | 70dB | ||||
ゲイン(Hi-Z) | 1.51X105V/A | ゲイン(Hi-Z) | 4.75X105V/A | ゲイン (Hi-Z) | 1.5X106V/A | ゲイン (Hi-Z) | 4.75X106V/A |
ゲイン(50Ω) | 0.75X105V/A | ゲイン (50Ω) | 2.38X105V/A | ゲイン(50Ω) | 0.75X106V/A | ゲイン(50Ω) | 2.38X106V/A |
帯域幅th (BW) | 90KHz | 帯域幅 (BW) | 28KHz | 帯域幅 (BW) | 9kHz | 帯域幅 (BW) | 3kHz |
ノイズ (RMS) | 214μV | ノイズ (RMS) | 234μV | ノイズ(RMS) | 277μV | ノイズ(RMS) | 388μV |
信号バイアス | ±8mV(Typ.) ,±12mV(Max) | ||||||
応答カーブ

寸法

製品構成
