1550 nm 4×4 ゲイガーモードAPD小型アレイチップ


応答波長:0.9–1.7 μm、 感度:7.5 A/W @ 1550 nm、アレイサイズ:4×4、 ピクセルサイズ:50 μm × 50 μm、アクティブ面積:Φ16 μm

型番  :  A4P50F-1550
価格  :  USD [お問い合わせください]
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InGaAs および InGaAsP 単一光子雪崩型ダイオード(SPAD)チップは、4×4 および 8×8 のアレイ仕様を持ち、短波長赤外域の単一光子検出、計数、イメージングに特化した専用チップです。
ゲイガーモードで動作する際、チップの各ピクセルは独立して自由に動作します。主に、0.9~1.7 μm および 0.95~1.25 μm の近赤外域における弱光信号の検出に使用されます。



パラメータ/記号

試験条件

最小値

最大値.

単位

単位:直流(DC)

特性

ケース温度(Tc):23 ± 2 ℃

 

ブレークダウン電圧、Vbr

Id=10μA

50

80

V

感度、Re

λ=1.55μm/1.06μm, Vr=Vbr-2V, Φe=1μW

7.5


A/W

暗電流、Id

Vr=Vbr-2V, Φe=0μW


1

nA

静電容量、Ctot

Vr=Vbr-2V, f=1MHz


0.25

pF

ブレークダウン電圧の温度係数、η

Top = ﹣40~﹢30℃, I=10μA, Φe=0


0.15

V/℃

ブレークダウン電圧の一致性、ΔVbr

Id=10μA


0.05

V

 


パラメータ/記号

試験条件

チップモジュール

A4P50F-1550

A4P50F-1064

A4(8)P100F-1550

A4(8)P100F-1064

単位:ゲイガー特性

動作温度(Top):−20 ℃

 

光子検出効率PDE)

0.1 光子/パルス

λ = 応答ピーク波長

≥ 20%

正規化暗カウント率*、DCR

fg=100MHz, PDE=20%

≤ 10kHz

≤ 5kHz

≤ 10kHz

≤ 5kHz

アフターパルス確率、APP

fg=100MHz, PDE=20%

≤ 2.5%

≤ 2%

≤ 2.5%

≤ 2%

クロストーク確率、Pxt

fg=100MHz, PDE=20%

≤ 20%

≤ 10%

特殊用途向けカスタマイズ対応:DCR < 1 kHz @ 0 ℃またはAPP < 0.5% @ 0 ℃

 

絶対最大定格

項目

パラメータ/記号

定格値

絶対最大定格

保存温度、Tstg

50℃~﹢85℃

(動作)周囲温度、Tc

50℃~﹢80℃

はんだ温度、Tsld(時間)

260℃(10s)

DC 逆バイアス電圧、Vr

Vbr

過バイアスパルス振幅、Vg

10V

入力光パワー、Φe(連続)

1mW

順方向電流、If(連続)

1mA

静電放電感受性、ESD

≥300V

 

チップ構造

チップモジュール

A4P50F-1550/-1064

A4P100F-1550/-1064

A8P100F-1550/-1064

アレイサイズ

4×4

8×8

ピクセルサイズ

50μm×50μm

100μm×100μm

100μm×100μm

アクティブ面積

Φ16μm

 



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