LD-PD PTE. LTD.

チップ、モジュール、システム

半導体チップから産業用モジュールまで、LD-PD は産業用途のインテリジェント化を推進します。

ウェハー

2インチ／3インチ選択可能

材料：InP / GaN / GaAs 選択可能

レーザータイプ：DFB、VCSEL、FP、SLD、DBR

ベアチップ

異なる共振器長

高速変調対応

狭線幅

キャリア搭載チップ

TE偏光

キャリアサイズ選択可能

高信頼性・低コスト

レーザーダイオード

多様なパッケージング

複数の出力オプション

フルパフォーマンステスト済み

レーザーシステム

お客様向けカスタム機能の拡張

ご要望に応じてカスタマイズ

LD-PD がチップとアプリをつなぐ

変えるチカラ、LD-PD にお任せください

技術

当社は半導体チップをさまざまな応用分野にシームレスに接続します。量子通信、光ファイバセンシング、高速通信、バイオメディカルなどの新興産業分野も含まれます。

精密波長スクリーニング

LD-PD は COC チップの波長スクリーニングを実施でき、許容差 ±1 nm 以下のフォトンチップを提供します。また、LD-PD には近赤外高速波長計と中赤外 FTIR フーリエ分光計を備えており、すべての波長を厳密にスクリーニングすることが可能です。

自動出力監視

LD-PD が独自開発した全自動 L-I-V カーブ測定システムは、半導体レーザーの試験効率を大幅に向上させます。本システムは、電流変化に伴うレーザー出力と駆動電圧の関係を自動で測定し、関連するカーブをリアルタイムで描画します。

高精度スペクトル解析

Anritsu MS9740B スペクトルアナライザは、波長範囲 600～1750 nm、分解能 0.07 nm、ダイナミックレンジ 70 dB をカバーします。また、AQ6375E 中赤外分光計は、波長範囲 1000～2500 nm、分解能 0.05 nm、ダイナミックレンジ 50 dB を備えています。

ビーム品質評価

ビーム品質はレーザービームの特性評価において重要な要素です。LD-PD はレーザービームの 2D/3D プロファイルを解析し、M² を評価するとともに、レーザーのビーム品質を分析します。

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製品

チップ、モジュール、システム

世界で稼働する半導体レーザー

技術

精密波長スクリーニング

自動出力監視

高精度スペクトル解析

ビーム品質評価

アプリケーション